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    新G5固态硬盘生产/老化测试系统

    新G5固态硬盘生产/老化测试系统

    产品介绍

    OVEN固态硬盘生产/老化测试系统提供全面的固态硬盘测试解决方案,涵盖温度控制、供电电压脚本编程,支持多种SSD规格和协议,包括NVMe Ver2.0。拥有丰富的脚本库、数据库分析系统和可定制的LTWolf软件。支持生产系统对接和数据管理,具备防火墙保护和成熟测试算法。

    产品特点

    • 全方位一体化固态硬盘测试解决方案;

    • 温度控制范围 -10℃ to 85℃;

    • 温度变化速度 1℃/分钟;

    • 温度均匀性土3℃(根据测试负载情况,可能会略有偏差);

    • 支持PCIe Gen5 x4,支持 PCIe L1.1/L1.2 低功耗测试,支持128/256 DUTs 同测;

    • 支持U.2、M.2、E3.S等SSD形态规格;

    • 每个测试端口供电电压可以脚本编程控制,控制范围是0.6V - 14.5V,控制精度1mV;

    • 支持SATA传统协议,支持最新的NVMe Ver2.0 协议并支持用户自定义NVMe 命令;

    • 丰富的脚本库,以及数据库分析系统;

    • LTWolf 软件,可以根据客户要求额外定制软功能;

    • 支持客户生产MES系统对接,也可根据客户定制生产数据管理系统;

    • 防火墙保护设计,测试电路与被测产品(DUT)完全隔离;

    • 完善且成熟的测试算法 ,包括:EVT、DVT、 RDT、TVM等。

    粤公网安备 44190002003872号

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